
SAS接口信號完整性檢測
簡要描述:SAS(Serial Attached SCSI)是存儲設備中廣泛應用的高速串行接口,其SAS接口信號完整性檢測旨在確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和可靠性。
所屬分類:信號完整性檢測
更新時間:2025-03-12
廠商性質(zhì):其他
品牌 | 優(yōu)爾鴻信 |
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SAS(Serial Attached SCSI)是存儲設備中廣泛應用的高速串行接口,其SAS接口信號完整性檢測旨在確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和可靠性。
SAS
SAS(Serial Attached SCSI)是一種用于連接硬盤驅動器和固態(tài)驅動器的高速接口技術。結合了高速度、高可靠性和良好的擴展性,廣泛應用于需要高性能存儲的企業(yè)環(huán)境。
應用場景:企業(yè)級存儲陣列,支持雙端口冗余和全雙工通信,速率可達24Gbps(SAS-4)。
信號特點:支持多設備級聯(lián)(Expander拓撲),需驗證信號在多節(jié)點下的抗干擾能力。
測試要點
發(fā)送端(TX)測試
眼圖與幅度:驗證信號眼高(SATA要求≥150mV)和眼寬(≥0.4UI),確保符合SATA-IO或SCSI協(xié)會標準模板。
抖動性能:測量總抖動(TJ)和隨機抖動(RJ),SAS-3要求TJ≤0.3UI(1UI=67ps)。
接收端(RX)測試
容限測試:通過誤碼儀(BERT)注入衰減和畸變信號,驗證接收端在惡劣信道下的糾錯能力(BER≤1e-12)。
均衡能力:測試接收端自適應均衡(如CTLE/DFE)對信道損耗的補償效果。
信道特性分析
插入損耗:SAS-4要求12GHz頻點損耗≤-16dB,需用網(wǎng)絡分析儀(VNA)測量。
阻抗連續(xù)性:時域反射計(TDR)檢測PCB走線阻抗偏差(目標值100Ω±10%)。
SAS接口信號完整性檢測項目
SAS信號完整性測試:
SAS3 TX測試
SAS3 RX測試
測試工具與標準
儀器:
高速示波器(≥20GHz帶寬,用于眼圖、抖動測試);
誤碼率測試儀(BERT)模擬極限信道條件;
協(xié)議分析儀(驗證SAS鏈路層協(xié)商過程)。
標準規(guī)范:
SAS:SCSI協(xié)會的《SAS Physical Layer Test Specification》。
通過測試,可有效提升SAS接口在高速數(shù)據(jù)傳輸中的抗干擾能力與長期穩(wěn)定性,滿足消費級與企業(yè)級存儲的嚴苛需求。具體測試流程可參考行業(yè)標準文檔或儀器廠商(如Keysight、Teledyne LeCroy)的應用指南
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